機(jī)械沖擊試驗臺是專為電子元器件、儀器儀表及機(jī)械產(chǎn)品等提供模擬沖擊環(huán)境試驗的設(shè)備，對產(chǎn)品在運(yùn)輸、使用過程中承受沖擊破壞程度依據(jù)，可完成半正弦波（基本波形）、后峰鋸齒波、梯形波；三種脈沖的沖擊試驗相關(guān)要求。沖擊測試臺主要用于小中型產(chǎn)品作沖擊試驗，考核試品承受沖擊破壞的能力。常應(yīng)用于電子元器件，電子線路板等環(huán)境試驗。

      試驗嚴(yán)厲度

      沖擊試驗之嚴(yán)厲度及波形應(yīng)盡可能模擬實際運(yùn)輸或操作時所遭遇的環(huán)境效應(yīng)或滿足試件結(jié)構(gòu)整體性測試之需求。

      一般而言，運(yùn)輸環(huán)境較操作環(huán)境更為嚴(yán)厲，故試驗位準(zhǔn)應(yīng)以前者為準(zhǔn)。然而，試件在操作環(huán)境中需功能正常，因此試件必須經(jīng)歷兩種沖擊狀況，即在運(yùn)輸環(huán)境后執(zhí)行參數(shù)量測，操作環(huán)境中執(zhí)行功能測試。

      當(dāng)選用嚴(yán)厲度時，需考慮試驗位準(zhǔn)與實際環(huán)境間之安全裕度。若實際操作或運(yùn)輸環(huán)境未知時，嚴(yán)厲度之選用可參考表。

      本標(biāo)準(zhǔn)在波形、速度變化及側(cè)向運(yùn)動均有容差要求，因此具高重復(fù)性。但是對于某些試件之質(zhì)量或動態(tài)響應(yīng)會影響沖擊機(jī)時則屬例外，此時相關(guān)規(guī)范應(yīng)明定較大之試驗容差或?qū)⑵浣Y(jié)果記錄于試驗報告內(nèi)。